<<<<<<<<<<<<<< CRC News 2015年 4月 2日 >>>>>>>>>>>>>> ＣＲＣ会員 各位 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ＣＲＣ事務局 ************************ 関連分野の皆様 KEK測定器開発室では以下の内容セミナーを開催します。 今回はCathal Cassidy氏をお招きして、Device development and microscopy: Case studies on TSV development and in situ TEMと題してご講演いただきます。 奮ってご参加ください。 ＴＶ会議システム等での中継も可能です。 ご希望の方は担当者までお問い合わせください。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　KEK測定器開発室 ====================================================================== 　　　　　　　　　　　　測定器開発室セミナー Date : April 23, 13:30~ Location : meeting room in 4th floor, bldg. 3 (425) Title : Device development and microscopy: Case studies on TSV development and in situ TEM Speaker : Prof. Cathal Cassidy氏（OIST) Abstract: In the first part of this talk, I will introduce the 3D sensor-CMOS integration technology that we developed at ams AG in the period from 2006-2012, for medical imaging application. I will discuss process development, structure, microscopy, and strengths and limitations of the technology. In the second part of the talk, I will discuss activities at OIST in the period 2012-2015, with a focus on advanced electron microscopy capabilities and results. These include semiconductor nanoparticle TEM and GPA strain analysis, high temperature TEM, holography, and in operando device TEM. In conclusion, I will briefly mention possible topics for future research in CMOS-detector technology. Contact:　Yasuo Arai（arai.yasuo -at- kek.jp)