<<<<<<<<<<<<<<<<<<< CRC News No.2133:2013年 7月 16日 >>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> CRC会員 各位                             CRC事務局 *********************< 8/09 KEK測定器開発室セミナー >********************* 関連分野の皆様 KEK測定器開発室では高エネルギー・原子核およびその関連分野の測定器技術・ 応用に関する知見を深めるため、不定期でセミナーを開催しております。 今回はみずほ情報総研株式会社から3名の講師をお招きし、「測定データの 解析に対する画像処理技術の適用可能性」としてセミナーを開催します。 多数ご参集いただきますようよろしくお願いします。 TV会議システム等での中継も可能です。 ご希望の方は担当者までお問い合わせください。 KEK測定器開発室 *****************************************************************         測定器開発室セミナー    測定データの解析に対する画像処理技術の適用可能性 アブストラクト: 測定器から得られるデータの解析に対する画像処理技術の適用事例として、 PET画像再構成の高速化や超伝導加速空洞内部の欠陥検出について、 関連事例等を含めながら紹介します。 併せて、当該分野への適用が期待できる超解像や領域分割等の画像処理 技術についても同様に関連事例をあげながら紹介します。 最後に、測定器開発分野をはじめとした専門家の方々と測定データの解析 に対する画像処理技術の適用可能性について議論したいと思います。 日  時:8月9日(金)13時30分〜15時00分 場  所:4号館3階345室 プログラム 13:30-  はじめに  ・背景(経緯紹介) 幅淳二(KEK)  ・概要      前川 秀正(情報通信研究部 シニアマネジャー) 13:40-  先端的な画像処理技術の適用事例  ・画像再構成と高速化 二田 晴彦(情報通信研究部 コンサルタント)  ・画像認識 永田 毅 (情報通信研究部 シニアマネジャー、 筑波大学 ヒューマンバイオロジー学位プログラム 教授(グローバル教育院)) 14:10-  先端的な画像処理技術の適用可能性  ・測定データの解析に適用可能な画像処理析技術 永田 毅(同上) 14:40-  自由討議 担  当:幅 (junji.haba_at_kek.jp) **************************************************************************