<<<<<<<<<<<<<<<<<<< CRC News No.1529：2010年 9月 4日 >>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> ＣＲＣ会員 各位 ＣＲＣ事務局 宇宙線研支部 *******************＜ 10/01 KEK測定器開発室セミナー ＞******************* 皆様 KEK測定器開発室では機構横断的にセミナーを開催しております。 測定器開発室セミナー「TCADによる半導体デバイスの理解」を 以下のように開催しますので多数ご参集ください。 期日が参りましたら再度ご連絡いたします。 　　　　　　　　　　　記 日時：　10/1 (金）15:00~16:00 場所：　4号館3階会議室 講演者：福田浩一氏 所属：　産業技術総合研究所　ナノ電子デバイス研究センター タイトル：TCADによる半導体デバイスの理解 アブストラクト： Technology CAD(TCAD)は半導体デバイス内部の物理現象を理解する上で強力な ツールである。TCADの中核技術、プロセス・デバイスシミュレーションの概 要・動向を紹介した後、適用例を通じて難しい側面や結果の解釈について論じる。 測定器開発室セミナーの情報は以下からもご覧頂けます。 http://rd.kek.jp/seminar_01.html また、ＴＶ会議システム等での中継も可能です。 ご希望の方は担当者までお問い合わせください。 担当：新井 ＫＥＫ測定器開発室 ＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝